本發(fā)明涉及地質(zhì)礦產(chǎn)勘探，尤其涉及一種錫石硫化物型錫礦找礦勘查方法。

背景技術(shù)：

1、在高高原地區(qū)（如平均海拔超過(guò)4000m的喜馬拉雅成礦帶）中，發(fā)育了一系列的金、銻、鉛、鋅、錫、鎢為代表的多金屬礦產(chǎn)，具有巨大的成礦潛力。喜馬拉雅成礦帶礦床成因類型多樣，主要發(fā)育的類型包括偉晶巖型、矽卡巖型、造山型、淺成低溫?zé)嵋盒?、熱液脈型、熱泉型等。

2、喜馬拉雅成礦帶存在多個(gè)穹隆，這類穹窿均是尋找錫礦床的有利找礦區(qū)塊。但是，目前喜馬拉雅成礦帶的錫礦主要產(chǎn)于層間拆離帶，并且礦體的種類較多、礦區(qū)較大、環(huán)境復(fù)雜，如果盲目開展找礦勘查，不能快速精確的確定地表和深部的錫礦位置。當(dāng)確定的錫礦位置精確度不高時(shí)，進(jìn)行大型工程找礦作業(yè)會(huì)導(dǎo)致?lián)p壞礦區(qū)脆弱的生態(tài)環(huán)境，以及造成人力、財(cái)力資源浪費(fèi)的情況發(fā)生。

3、在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明過(guò)程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下問(wèn)題：

4、現(xiàn)有的錫礦找礦勘查方法探測(cè)錫礦的產(chǎn)出位置的精確度不高。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于提供一種錫石硫化物型錫礦找礦勘查方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的現(xiàn)有的錫礦找礦勘查方法探測(cè)錫礦的產(chǎn)出位置的精確度不高的技術(shù)問(wèn)題。本發(fā)明提供的諸多技術(shù)方案中的優(yōu)選技術(shù)方案所能產(chǎn)生的諸多技術(shù)效果詳見(jiàn)下文闡述。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了以下技術(shù)方案：

2、本發(fā)明提供的一種錫石硫化物型錫礦找礦勘查方法，包括：在成礦帶區(qū)域上確定有利區(qū)域，并在所述有利區(qū)域內(nèi)開展1：5萬(wàn)比例尺的礦產(chǎn)地質(zhì)填圖調(diào)查和1：5萬(wàn)比例尺的水系沉積物測(cè)量，確定重點(diǎn)調(diào)查區(qū)；

3、在所述重點(diǎn)調(diào)查區(qū)內(nèi)確定重點(diǎn)勘查區(qū)后，圈定所述重點(diǎn)調(diào)查區(qū)中的含礦地質(zhì)體并通過(guò)槽探工程揭露淺表礦體，在揭露的所述淺表礦體中鎖定目標(biāo)礦體，獲取所述目標(biāo)礦體向下延伸的第一基本地質(zhì)特征，根據(jù)所述第一基本地質(zhì)特征確定淺部礦體，對(duì)所述淺部礦體進(jìn)行淺鉆和驗(yàn)證，得到符合預(yù)設(shè)條件的淺部礦體，所述目標(biāo)礦體為錫石硫化物型錫礦；

4、對(duì)所述符合預(yù)設(shè)條件的淺部礦體進(jìn)行地球物理探測(cè)和地質(zhì)綜合分析，確定深部礦體延伸的第三基本地質(zhì)特征，再開展環(huán)評(píng)和深部鉆探驗(yàn)證，通過(guò)地質(zhì)塊段法確定礦床規(guī)模。

5、優(yōu)選的，所述在成礦帶區(qū)域上確定有利區(qū)域，并在所述有利區(qū)域內(nèi)開展1：5萬(wàn)比例尺的礦產(chǎn)地質(zhì)填圖調(diào)查和1：5萬(wàn)比例尺的水系沉積物測(cè)量，確定重點(diǎn)調(diào)查區(qū)，包括：

6、通過(guò)所述成礦帶區(qū)域的地層、構(gòu)造、巖漿巖、礦產(chǎn)調(diào)查報(bào)告和礦產(chǎn)資料確定所述有利區(qū)域；

7、在所述有利區(qū)域內(nèi)開展1：5萬(wàn)比例尺的礦產(chǎn)地質(zhì)填圖調(diào)查，確定所述有利區(qū)域中含錫量大于設(shè)定閾值的片巖分布范圍；

8、在所述有利區(qū)域內(nèi)開展1：5萬(wàn)比例尺的水系沉積物測(cè)量，分析水系沉積物中元素的成礦潛力，確定異常區(qū)；

9、根據(jù)所述有利區(qū)域中含錫量大于設(shè)定閾值的片巖分布范圍和所述異常區(qū)，確定所述重點(diǎn)調(diào)查區(qū)。

10、優(yōu)選的，所述在所述重點(diǎn)調(diào)查區(qū)內(nèi)確定重點(diǎn)勘查區(qū)后，圈定所述重點(diǎn)調(diào)查區(qū)中的含礦地質(zhì)體并通過(guò)槽探工程揭露淺表礦體，在揭露的所述淺表礦體中鎖定目標(biāo)礦體，獲取所述目標(biāo)礦體向下延伸的第一基本地質(zhì)特征，根據(jù)所述第一基本地質(zhì)特征確定淺部礦體，對(duì)所述淺部礦體進(jìn)行淺鉆和驗(yàn)證，得到符合預(yù)設(shè)條件的淺部礦體，包括：

11、在所述重點(diǎn)調(diào)查區(qū)內(nèi)開展1:5千比例尺的巖石地化剖面測(cè)量，并結(jié)合地表礦化線索，確定所述重點(diǎn)勘查區(qū)；

12、在所述重點(diǎn)勘查區(qū)內(nèi)開展1:1萬(wàn)比例尺的專項(xiàng)地質(zhì)填圖圈定含礦地質(zhì)體，并在所述重點(diǎn)勘查區(qū)內(nèi)開展1:2千比例尺的地質(zhì)剖面測(cè)量后，對(duì)所述重點(diǎn)勘查區(qū)進(jìn)行地表或淺部的槽探工程，揭露淺表礦體；

13、判斷所述淺表礦體是否為錫石硫化物型錫礦；

14、若是，則根據(jù)地層和拆離斷層的產(chǎn)狀推測(cè)所述目標(biāo)礦體的延伸的第一基本地質(zhì)特征；

15、獲取所述目標(biāo)礦體的產(chǎn)出范圍，在所述產(chǎn)出范圍內(nèi)開展1:2千比例尺的礦區(qū)地質(zhì)填圖調(diào)查和地球物理探測(cè)，確定淺部礦體延伸的第二基本地質(zhì)特征，并通過(guò)淺鉆檢測(cè)所述第二基本地質(zhì)特征，得到符合預(yù)設(shè)條件的所述淺部礦體。

16、優(yōu)選的，所述對(duì)所述符合預(yù)設(shè)條件的淺部礦體進(jìn)行地球物理探測(cè)和地質(zhì)綜合分析，確定深部礦體延伸的第三基本地質(zhì)特征，再開展環(huán)評(píng)和深部鉆探驗(yàn)證，通過(guò)地質(zhì)塊段法確定礦床規(guī)模，包括：通過(guò)地球物理探測(cè)和地質(zhì)綜合分析推測(cè)含礦斷層中的所述淺部礦體向下延伸的深度和產(chǎn)狀，確定所述深部礦體；獲取所述深部礦體延伸的第三基本地質(zhì)特征，并開展環(huán)境影響評(píng)估；通過(guò)深鉆檢測(cè)深部層間拆離斷層中控制的所述深部礦體延伸的所述第三基本地質(zhì)特征；通過(guò)地質(zhì)塊段法估算所述深部礦體的礦體資源量，確定礦床規(guī)模。

17、優(yōu)選的，所述通過(guò)地球物理探測(cè)和地質(zhì)綜合分析推測(cè)含礦斷層中的所述淺部礦體向下延伸的深度和產(chǎn)狀，確定所述深部礦體，包括：通過(guò)大地電磁測(cè)深對(duì)含礦斷層中的所述淺部礦體所在的主礦體區(qū)域進(jìn)行勘測(cè)，獲取兩條大地電磁測(cè)深剖面；通過(guò)分析所述兩條大地電磁測(cè)深剖面在橫磁波模式上的深部電阻和淺部電阻的反演結(jié)果，及在橫電波模式上的深部電阻和淺部電阻的反演結(jié)果分析，推測(cè)含礦斷層中的所述淺部礦體向下延伸的深度和產(chǎn)狀，確定所述深部礦體。

18、優(yōu)選的，所述通過(guò)地球物理探測(cè)和地質(zhì)綜合分析推測(cè)含礦斷層中的所述淺部礦體向下延伸的深度和產(chǎn)狀，確定所述深部礦體，還包括：通過(guò)激電測(cè)深對(duì)含礦斷層中的所述淺部礦體所在的主礦體區(qū)域進(jìn)行勘測(cè)，獲取預(yù)設(shè)數(shù)量的激電測(cè)深剖面；通過(guò)分析所述預(yù)設(shè)數(shù)量的激電測(cè)深剖面在拆離斷層之上的淺部的視極化率和拆離斷層之下的深部的視極化率，得到所述拆離斷層之下的深部的視極化率中的異常帶，根據(jù)所述異常帶含礦斷層中的所述淺部礦體向下延伸的深度和產(chǎn)狀，確定所述深部礦體。

19、優(yōu)選的，所述通過(guò)地質(zhì)塊段法估算所述深部礦體的礦體資源量，確定礦床規(guī)模，包括：

20、采用礦體水平投影法對(duì)所述深部礦體進(jìn)行分塊段投影，獲取塊段縱投影面積s、塊段平均水平厚度m、礦石單位體積質(zhì)量d和塊段平均品位c；

21、根據(jù)所述塊段縱投影面積s和所述塊段平均水平厚度m，確定塊段體積v；其中，v=s×m；

22、根據(jù)所述塊段體積v和所述礦石單位體積質(zhì)量d，確定塊段礦石量q；其中，q=v×d；

23、根據(jù)所述塊段礦石量q和所述塊段平均品位c，確定塊段金屬資源量p；其中，p=q×c；

24、根據(jù)所述塊段金屬資源量p，確定礦體金屬資源量t；其中，t=∑p；

25、根據(jù)所述礦體金屬資源量t，確定礦床規(guī)模。

26、優(yōu)選的，所述獲取塊段平均品位c，包括：獲取礦體樣品的品位與樣長(zhǎng)，通過(guò)加權(quán)平均法確定單工程平均品位；獲取塊段內(nèi)每個(gè)單工程平均品位，通過(guò)厚度加權(quán)平均法確定所述塊段平均品位c。

27、優(yōu)選的，所述獲取塊段平均水平厚度m，包括：

28、在每個(gè)礦體樣品中，獲取所述礦體樣品的樣品長(zhǎng)度l、礦層傾角α、樣品坡度角β和孔斜方位與礦體走向之間的夾角γ；

29、根據(jù)所述樣品長(zhǎng)度l、礦層傾角α、樣品坡度角β和所述孔斜方位與礦體走向之間的夾角γ，確定所述礦體樣品的真實(shí)厚度h和塊段鉛直厚度h；

30、其中，h＝l(sinα.cosβ.sinγ＋sinβ.cosα)?；

31、h＝l(tanα.cosβ.sinγ＋sinβ)?；

32、根據(jù)所述每個(gè)礦體樣品的塊段鉛直厚度h的算術(shù)平均值，確定所述塊段平均水平厚度m。

33、優(yōu)選的，所述獲取塊段縱投影面積s，包括：根據(jù)礦體水平投影法對(duì)所述深部礦體進(jìn)行分塊段投影，獲取水平投影圖；根據(jù)所述水平投影圖上塊段的形狀進(jìn)行地質(zhì)信息系統(tǒng)分區(qū)，獲取地質(zhì)信息系統(tǒng)區(qū)面積；根據(jù)所述地質(zhì)信息系統(tǒng)區(qū)面積和所述水平投影圖的圖件比例尺，確定所述塊段縱投影面積s。

34、實(shí)施本發(fā)明上述技術(shù)方案中的一個(gè)技術(shù)方案，具有如下有益效果：

35、本發(fā)明先通過(guò)在成礦帶區(qū)域確定具有找礦潛力的重點(diǎn)調(diào)查區(qū)，在重點(diǎn)調(diào)查區(qū)中圈定含礦地質(zhì)體的礦化強(qiáng)度超過(guò)閾值的所在區(qū)域，即重點(diǎn)勘查區(qū)，通過(guò)對(duì)重點(diǎn)勘查區(qū)進(jìn)行淺表礦體的揭露，確定目標(biāo)礦體，推測(cè)目標(biāo)礦體向下延伸的第一基本地質(zhì)特征得到淺部礦體，通過(guò)淺鉆初步檢驗(yàn)得到符合預(yù)設(shè)條件的淺部礦體，用以規(guī)避環(huán)境破壞，推測(cè)淺部礦體向下延伸的第二基本地質(zhì)特征得到淺部礦體，環(huán)評(píng)后通過(guò)深鉆二次檢驗(yàn)深部礦體延伸的第三基本地質(zhì)特征，實(shí)現(xiàn)地質(zhì)與物探相結(jié)合，綜合分析有效判別產(chǎn)于拆離斷層的錫礦體的產(chǎn)出位置，有效減少了盲目開展環(huán)評(píng)的造成人力、財(cái)力資源浪費(fèi)的情況發(fā)生。