本發(fā)明涉及功率模塊測試電路，特別涉及一種基于tesec測試機(jī)的三電平拓?fù)錅y試電路。

背景技術(shù)：

1、半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)測試系統(tǒng)是一種專門用于測量和分析功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)的儀器，這些系統(tǒng)能夠測試多種電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)，包括但不限于擊穿電壓、漏電流、閾值電壓、開啟電壓、跨導(dǎo)、壓降、導(dǎo)通內(nèi)阻等。測試種類覆蓋了多個(gè)類別，如二極管類、三極管類（包括bjt、mosfet、igbt等）、保護(hù)類器件、穩(wěn)壓集成類、繼電器類、光耦類、傳感監(jiān)測類等。其中日本tesec公司所生產(chǎn)的tesec-3620-tt雙系統(tǒng)靜態(tài)測試機(jī)是業(yè)內(nèi)主流的功率模塊靜態(tài)測試機(jī)，該測試機(jī)可以進(jìn)行基本的靜態(tài)參數(shù)測試。

2、24pin模組?是指一種電源接口設(shè)計(jì)，通過設(shè)置多個(gè)接口來允許用戶根據(jù)需要選擇是否使用所有的電源線，提供了更大的靈活性和定制性。通過與24pin模組自由定義功率模塊中單個(gè)igbt管的c、g、e引腳到測試機(jī)中進(jìn)行測試，此模組可以使tesec測試機(jī)從單通道測試能力實(shí)現(xiàn)功率模塊的多通道測試的功能，tesec測試機(jī)一般選用pt9204-24pin進(jìn)行控制。

3、通過pt9204-24pin模組自由定義功率模塊中單個(gè)igbt管的c、g、e的pin即可測試單個(gè)igbt管的靜態(tài)參數(shù)，但是由于三電平拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的各種封裝的功率igbt模塊只是模塊的采樣pin沒有功率引腳，因此無法通過大電流。因?yàn)榇祟惸K電流規(guī)格較大且不同的封裝結(jié)構(gòu)均具有不同的電流，大部分在75a--600a之間，而模塊的采樣pin耐電流能力較弱，所以無法進(jìn)行大電流測試。因此想要實(shí)現(xiàn)通過tesec測試機(jī)單獨(dú)檢測一個(gè)igbt管的ce電壓，就必需同時(shí)開通兩個(gè)igbt管再單獨(dú)分別測量ce電壓，但是由于tesec測試機(jī)無法同時(shí)將兩個(gè)器件開通，因此需要外圍電路進(jìn)行輔助。因此，設(shè)計(jì)一套合適的外圍電路是來控制對應(yīng)電壓接口切換電路，從而使對應(yīng)的igbt管單獨(dú)導(dǎo)通，實(shí)現(xiàn)通過tesec測試機(jī)單獨(dú)檢測的功能。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本發(fā)明提供了一種基于tesec測試機(jī)的三電平拓?fù)錅y試電路，以解決上述技術(shù)問題。

2、一種基于tesec測試機(jī)的三電平拓?fù)錅y試電路，其包括一個(gè)檢測機(jī)接口單元，一個(gè)與所述檢測機(jī)接口單元電性連接的模塊單元，一個(gè)與所述檢測機(jī)接口單元和所述模塊單元電性連接的輔助單元，所述檢測機(jī)接口單元包括電壓控制模塊，以及電流控制模塊。所述電壓控制模塊包括二十四個(gè)電壓接口，所述電流控制模塊包括二十四個(gè)電流接口。所述模塊單元包括igbt管q1，igbt管q2，igbt管q3，igbt管q4，igbt管q5，igbt管q6，二極管d1，二極管d2，二極管d3，二極管d4，二極管d5，以及二極管d6。每一個(gè)所述igbt管的集電極、柵極、發(fā)射極分別與所述電壓控制模塊和所述電流控制模塊連接。所述輔助單元包括第一繼電器電源bat2，第二繼電器電源bat3，dpst繼電器組件，以及spdt繼電器組件。所述dpst繼電器組件的輸出端與所述第二繼電器電源bat3連接，所述dpst繼電器組件的輸入端與所述模塊單元的多個(gè)igbt管的集電極和柵極連接。所述dpst繼電器組件的線圈兩端分別與所述第一繼電器電源bat2和電壓控制模塊連接，所述spdt繼電器組件的輸出端與所述模塊單元的igbt管的集電極和發(fā)射極連接，輸入端和所述電壓控制模塊連接，所述spdt繼電器組件的線圈兩端分別與所述第一繼電器電源bat2和所述電壓控制模塊連接。

3、進(jìn)一步地，每一個(gè)所述電壓接口具有六個(gè)開關(guān)并通過六個(gè)開關(guān)分別與三個(gè)電壓總線和三個(gè)控制總線分別連接，每一個(gè)所述電流接口具有三個(gè)開關(guān)并通過三個(gè)開關(guān)分別與三個(gè)電流總線分別連接。

4、進(jìn)一步地，所述igbt管q1的發(fā)射極與所述igbt管q2的集電極連接，所述igbt管q2的發(fā)射極與所述igbt管q3的集電極連接，所述igbt管q3的發(fā)射極與所述igbt管q4的集電極連接，所述igbt管q5的集電極與所述igbt管q1和所述igbt管q2的連接處連接，所述igbt管q5的發(fā)射極與所述igbt管q6的集電極連接，所述igbt管q6的發(fā)射極與所述igbt管q3和所述igbt管q4的連接處連接。

5、進(jìn)一步地，每一個(gè)igbt管并聯(lián)有一個(gè)二極管，每一個(gè)所述二極管的負(fù)極與所述igbt管的集電極連接，每一個(gè)所述二極管的正極與所述igbt管的發(fā)射極連接。

6、進(jìn)一步地，所述第二繼電器電源bat3具有多個(gè)且數(shù)量與dpst繼電器數(shù)量相同，其正負(fù)極分別與dpst繼電器的兩個(gè)輸出端連接。

7、進(jìn)一步地，所述dpst繼電器組件包括第一dpst繼電器rl-q1，第二dpst繼電器rl-q2，第三dpst繼電器rl-q3，所述第一dpst繼電器rl-q1的兩個(gè)輸入端分別與所述第十五電流接口i15和第十六電流接口i16連接，所述第一dpst繼電器rl-q1的線圈兩端分別與所述第一繼電器電源bat2和第六電壓接口v6連接，所述第二dpst繼電器rl-q2的兩個(gè)輸入端分別與所述第二十二電流接口i22和第十九電流接口i19連接，所述第二dpst繼電器rl-q2的線圈兩端分別與所述第一繼電器電源bat2和第七電壓接口v7連接，所述第三dpst繼電器rl-q3的兩個(gè)輸入端分別與所述第十八電流接口i18和第十九電流接口i19連接，所述第三dpst繼電器rl-q3的線圈兩端分別與所述第一繼電器電源bat2和第八電壓接口v8連接。

8、進(jìn)一步地，所述spdt繼電器組件包括第一spdt繼電器rl-q1c，第二spdt繼電器rl-q2e，第三spdt繼電器rl-q3c，以及第四spdt繼電器rl-q4e，所述第一spdt繼電器rl-q1c的輸入端與所述第一電壓接口v1連接，兩個(gè)輸出端分別與第十六電壓接口v16和所述igbt管q1的集電極連接，所述第二spdt繼電器rl-q2e的輸入端與所述第三spdt繼電器rl-q3c的輸出端連接，兩個(gè)輸出端分別與第十六電壓接口v16和所述igbt管q2的發(fā)射極連接，所述第三spdt繼電器rl-q3c的輸入端與所述第二電壓接口v2連接，兩個(gè)輸出端分別與第十九電壓接口v19和所述第二spdt繼電器rl-q2e的輸入端連接，所述第四spdt繼電器rl-q4e的輸入端與所述第三電壓接口v3連接，兩個(gè)輸出端分別與第十九電壓接口v19和所述igbt管q4的發(fā)射極連接。

9、進(jìn)一步地，三個(gè)電壓總線分別為電壓總線cv、電壓總線bv、電壓總線ev，所述電壓控制模塊還包括兩個(gè)萬用表，一個(gè)所述萬用表的兩端分別連接所述電壓總線bv和所述電壓總線ev，另一個(gè)所述萬用表的兩端分別連接所述電壓總線cv和所述電壓總線ev。

10、進(jìn)一步地，三個(gè)電流總線分別為電流總線ci、電流總線bi、電流總線ei，所述電流控制模塊還包括電源bat1，所述電源bat1一端與電流總線ci和電流總線ei連接并接地，另一端串聯(lián)有一個(gè)開關(guān)并與電流總線bi連接。

11、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的基于tesec測試機(jī)的三電平拓?fù)錅y試電路通過在igbt管的電極和測試機(jī)的接口之間設(shè)置輔助單元，并通過設(shè)置繼電器來控制單個(gè)igbt管的開通，以實(shí)現(xiàn)單個(gè)igbt管的。所述第一spdt繼電器rl-q1c的輸入端與所述第一電壓接口v1連接，兩個(gè)輸出端分別與第十六電壓接口v16和所述igbt管q1的集電極連接。dpst繼電器的兩個(gè)輸入端分別與igbt管的柵極和發(fā)射極接口開關(guān)相連，dpst繼電器的線圈兩端分別與所述第一繼電器電源bat2和空閑的電壓接口連接，通過控制對應(yīng)電壓接口來控制dpst繼電器切換電路，從而使對應(yīng)的igbt管單獨(dú)導(dǎo)通，從而實(shí)現(xiàn)通過tesec測試機(jī)單獨(dú)檢測的功能。