一種一體式磁痕測(cè)量量具及測(cè)量方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種量具，特別是關(guān)于一種一體式磁痕測(cè)量量具及測(cè)量方法。
【背景技術(shù)】
[0002]為了保證鐵路貨車(chē)的運(yùn)輸安全，需要定期對(duì)鐵路貨車(chē)的關(guān)鍵部件進(jìn)行檢測(cè)，例如對(duì)車(chē)鉤、搖枕、側(cè)架、制動(dòng)梁、交叉桿和車(chē)軸等部件進(jìn)行磁粉探傷檢測(cè)。采用磁粉探傷主要是為了檢測(cè)一些目視不可見(jiàn)的缺陷。檢測(cè)缺陷時(shí)需要對(duì)缺陷磁痕的長(zhǎng)度和方向兩個(gè)參數(shù)進(jìn)行測(cè)量，而缺陷磁痕的方向?qū)ぜ踩褂玫奈：π愿?，因此在進(jìn)行磁粉探傷檢測(cè)時(shí)，應(yīng)首先判斷出缺陷磁痕的方向，然后再依據(jù)其大小，判定對(duì)工件進(jìn)行返修還是報(bào)廢處理。
[0003]對(duì)于缺陷磁痕的方向檢測(cè)一般規(guī)定為:與工件縱向中心線(xiàn)夾角大于等于45°時(shí)為橫向缺陷，小于45°時(shí)為縱向缺陷。因此在進(jìn)行判定時(shí)，首先要判定缺陷磁痕的方向，即測(cè)量缺陷磁痕與工件中心線(xiàn)的夾角，其次在不同方向條件下，判定缺陷磁痕的允許的長(zhǎng)度，方向不同各自允許的長(zhǎng)度也不同。在許多部件的關(guān)鍵探傷部位上，對(duì)橫向缺陷的長(zhǎng)度要求比縱向缺陷的長(zhǎng)度控制嚴(yán)格的多，因此判定為橫向缺陷的，就應(yīng)進(jìn)行報(bào)廢處理，判定為縱向缺陷的則可以進(jìn)行返修處理。正確劃分縱向缺陷和橫向缺陷，不僅對(duì)零部件的質(zhì)量關(guān)系重大，對(duì)于檢修成本也至關(guān)重要。
[0004]但是探傷人員在對(duì)缺陷進(jìn)行定量測(cè)定時(shí)，由于沒(méi)有可以直接方便測(cè)量的工具，因此只能采用直尺和角度尺配合的方式進(jìn)行測(cè)定，或者采用目測(cè)方式對(duì)方向進(jìn)行判定，但是這兩種判定方式都會(huì)產(chǎn)生一定的誤差，不能進(jìn)行準(zhǔn)確判定。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]針對(duì)上述問(wèn)題，本發(fā)明的目的是提供一種可以同時(shí)測(cè)量缺陷磁痕長(zhǎng)度和方向的一體式磁痕測(cè)量量具及測(cè)量方法。
[0006]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采取以下技術(shù)方案:一種一體式磁痕測(cè)量量具，其特征在于:它包括一基準(zhǔn)尺、一輔助尺和一測(cè)量尺；所述基準(zhǔn)尺包括一直尺，在所述直尺的一端一體設(shè)置一量角盤(pán)，在所述直尺的另一端底部設(shè)置有一第一圓孔；所述量角盤(pán)上設(shè)置有一圓弧形刻度條，所述圓弧形刻度條的中心位于所述直尺的軸線(xiàn)上；在所述圓弧形刻度條的弧心所在位置設(shè)置有一第一通孔；
[0007]所述輔助尺為一直尺結(jié)構(gòu)，在所述輔助尺的一端底部設(shè)置有一第二圓孔，所述輔助尺通過(guò)穿過(guò)所述第一圓孔和第二圓孔的活動(dòng)鉚釘與所述基準(zhǔn)尺轉(zhuǎn)動(dòng)連接；
[0008]所述測(cè)量尺為一直尺結(jié)構(gòu)，在所述測(cè)量尺一端設(shè)置有一第二通孔，所述測(cè)量尺通過(guò)穿過(guò)所述第一通孔和第二通孔的另一活動(dòng)鉚釘與基準(zhǔn)尺轉(zhuǎn)動(dòng)連接。
[0009]在所述測(cè)量尺的所述第二通孔的兩側(cè)分別設(shè)置一條與所述測(cè)量尺軸線(xiàn)重合的刻度線(xiàn)。
[0010]至少在所述測(cè)量尺的一側(cè)設(shè)置有刻度條；所述直尺和輔助尺至少在展開(kāi)狀態(tài)下的同一側(cè)設(shè)置有刻度條。
[0011]在所述量角盤(pán)與所述直尺的連接處根部設(shè)置一凹槽，在所述輔助尺的另一端底部設(shè)置有一與所述凹槽相配合的凸起。
[0012]所述圓弧形刻度條上的刻度線(xiàn)采用內(nèi)凹式；所述圓弧形刻度條的測(cè)量角度范圍在35。?55。之間。
[0013]所述基準(zhǔn)尺和輔助尺采用硬質(zhì)塑料、透明塑料和不透明塑料材料之一制成；所述測(cè)量尺采用透明塑料制成。
[0014]一種所述裝置的測(cè)量方法，其包括以下步驟:
[0015]I)首先將基準(zhǔn)尺帶有刻度條的一側(cè)與工件的中心線(xiàn)對(duì)齊；
[0016]2)然后轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)量尺，使其帶有刻度條的一側(cè)調(diào)整至與缺陷磁痕的方向一致后，在測(cè)量尺上讀出缺陷磁痕的長(zhǎng)度的準(zhǔn)確數(shù)值；
[0017]3)同時(shí)，在圓弧形刻度條上通過(guò)刻度線(xiàn)讀出缺陷磁痕與中心線(xiàn)夾角的角度值；
[0018]4)根據(jù)缺陷磁痕的方向判定其為橫向缺陷還是縱向缺陷，然后再根據(jù)缺陷磁痕的長(zhǎng)度決定對(duì)工件進(jìn)行返修處理或報(bào)廢處理。
[0019]當(dāng)測(cè)量大工件時(shí)，將折疊的輔助尺展開(kāi)以提高缺陷磁痕定位的準(zhǔn)確性。
[0020]當(dāng)磁痕缺陷的角度與中心線(xiàn)夾角不超過(guò)35°或超過(guò)55°時(shí)，只測(cè)量缺陷磁痕的長(zhǎng)度。
[0021]本發(fā)明由于采取以上技術(shù)方案，其具有以下優(yōu)點(diǎn):1、本發(fā)明由于在基準(zhǔn)尺上設(shè)置有量角盤(pán)，并且在量角盤(pán)上轉(zhuǎn)動(dòng)連接一測(cè)量尺，因此可以同時(shí)進(jìn)行缺陷磁痕方向和長(zhǎng)度的測(cè)量，減小了判定的誤差和分歧，提高了檢測(cè)效率和判定的準(zhǔn)確性。2、本發(fā)明由于將測(cè)量尺設(shè)置在基準(zhǔn)尺之上，因此測(cè)量尺不會(huì)與工件表面直接接觸，避免了在測(cè)量時(shí)對(duì)缺陷磁痕的破壞。3、本發(fā)明的基準(zhǔn)尺和測(cè)量尺由于繞同一個(gè)中心進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)，因此在測(cè)量過(guò)程中可進(jìn)行相對(duì)調(diào)整，方便對(duì)工件不同部位的缺陷磁痕進(jìn)行測(cè)量。4、本發(fā)明由于在基準(zhǔn)尺一端底部上轉(zhuǎn)動(dòng)連接一可折疊輔助尺，因此在測(cè)量較大工件時(shí)，可將測(cè)量基準(zhǔn)加長(zhǎng)，保證測(cè)量的準(zhǔn)確性。5、本發(fā)明裝置在折疊狀態(tài)下總長(zhǎng)為150_，可適用于一般工件的測(cè)量且攜帶方便；本發(fā)明裝置在展開(kāi)狀態(tài)下總長(zhǎng)為280_，可滿(mǎn)足較大工件的測(cè)量，因此本發(fā)明裝置可適用于不同尺寸工件的測(cè)量要求。
【附圖說(shuō)明】
[0022]圖1是本發(fā)明的整體結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023]圖2是本發(fā)明的基準(zhǔn)尺的整體結(jié)構(gòu)示意圖；
[0024]圖3是本發(fā)明的輔助尺的整體結(jié)構(gòu)示意圖；
[0025]圖4是本發(fā)明的測(cè)量尺的整體結(jié)構(gòu)示意圖；
[0026]圖5是本發(fā)明的測(cè)量尺的展開(kāi)狀態(tài)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0027]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)的描述。
[0028]如圖1所示，本發(fā)明包括一基準(zhǔn)尺1、一輔助尺2和一測(cè)量尺3。
[0029]如圖2所示，基準(zhǔn)尺I包括一直尺11，在直尺11的一端一體設(shè)置一量角盤(pán)12，在直尺11的另一端底部設(shè)置有一圓孔14。量角盤(pán)12上設(shè)置有一用于測(cè)量角度值的圓弧形刻度條121，圓弧形刻度條121的中心位于直尺11的軸線(xiàn)上且開(kāi)口朝向直尺11 一端。在圓弧形刻度條121的弧心位置處設(shè)置一通孔13。
[0030]如圖3所示，輔助尺2為一直尺結(jié)構(gòu)，在輔助尺2的一端底部設(shè)置有一圓孔21，輔助尺2通過(guò)穿過(guò)圓孔21和圓孔14的活動(dòng)鉚釘4與基準(zhǔn)尺I轉(zhuǎn)動(dòng)連接，進(jìn)而形成一可折疊的輔助尺2。
[0031]如圖4所示，測(cè)量尺3為一直尺結(jié)構(gòu)，在其一端設(shè)置有一通孔31，測(cè)量尺3通過(guò)穿過(guò)通孔31和通孔13的活動(dòng)鉚釘5與基準(zhǔn)尺I轉(zhuǎn)動(dòng)連