一種emc測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明公開了一種EMC測試方法，屬于電磁兼容測試設(shè)備領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]電磁兼容(EMC)是對電子產(chǎn)品在電磁場方面干擾大小(EMI)和抗干擾能力(EMS)的綜合評定，是產(chǎn)品質(zhì)量最重要的指標(biāo)之一，電磁兼容的測量由測試場地和測試儀器組成。
[0003]測試場地主要包括:開闊場、半電波暗室、屏蔽室。測試設(shè)備主要包括:1、電波暗室2、接收機3、接收天線4、人工電源網(wǎng)絡(luò)、6、轉(zhuǎn)臺、升降臺7、轉(zhuǎn)臺、升降臺控制器；其中，轉(zhuǎn)臺主要包括一個旋轉(zhuǎn)臺面和一個設(shè)置于旋轉(zhuǎn)臺面上的固定轉(zhuǎn)臺，測試時，只需將通電正常工作的產(chǎn)品放在固定轉(zhuǎn)臺上，通過旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺帶動固定轉(zhuǎn)臺旋轉(zhuǎn)，使得產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)，接收天線接收該工作產(chǎn)品發(fā)出的電磁波，進行測試。
[0004]這種轉(zhuǎn)臺在測試過程中，測試產(chǎn)品的電源均通過外部接入，電源線一般是隨意搭放于固定桌面上，當(dāng)轉(zhuǎn)臺旋轉(zhuǎn)時，電源線跟隨轉(zhuǎn)臺一起旋轉(zhuǎn)，這樣就引起以下問題:
(O電源線裸露在外部，電流大時，可發(fā)出傳到干擾，使得接收設(shè)備接收的電磁波不完全是測試產(chǎn)品發(fā)出的電磁波，對測試結(jié)果造成偏差。
[0005](2)電源線跟隨旋轉(zhuǎn)臺旋轉(zhuǎn)，線太長容易造成線混亂，如果被卡住，容易是測試產(chǎn)品電源斷開或者將測試產(chǎn)品拖拽到地上，存在安全隱患。
[0006]申請?zhí)枮?01310505383.3，申請日為2013年10月24日的發(fā)明公開了一種EMC測試臺，包括第一臺面、第二臺面、電機，所述第二臺面水平設(shè)置，第一臺面平行設(shè)置于第二臺面上部，所述第二臺面通過旋轉(zhuǎn)軸與電機的驅(qū)動軸連接，所述電機設(shè)置于第二臺面下部，所述第一臺面中心與第二臺面中心分別開孔，兩個開孔之間設(shè)置走線槽，所述走線槽的兩端分別與兩個開孔連接。該裝置設(shè)置走線槽，使得測試產(chǎn)品的電源線內(nèi)置，避免安全隱患。走線槽內(nèi)設(shè)置屏蔽層，避免了測試過程中電源線的傳導(dǎo)干擾，增加了測試準(zhǔn)確性。
[0007]上述專利的電源未設(shè)置于屏蔽盒中，會產(chǎn)生電源串繞，對信號造成一定的干擾，影響測試結(jié)果。
[0008]因此，現(xiàn)有測試轉(zhuǎn)臺還存在著亟待解決的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是:提供一種EMC測試方法，解決了現(xiàn)有技術(shù)中EMC測試過程中測試不充分的問題。
[0010]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的技術(shù)方案是:
一種EMC測試方法，包括如下步驟:
步驟1、將待測試產(chǎn)品設(shè)置于測試臺上，接通電源；
步驟2、關(guān)閉EMC測試屏蔽室的門，保持屏蔽室密閉狀態(tài)；
步驟3、外部控制器控制測試臺勻速順時針旋轉(zhuǎn)180度，然后逆時針旋轉(zhuǎn)360度；
步驟4、控制測試臺繼續(xù)勻速順時針旋轉(zhuǎn)180度，回到初始位置停止； 步驟5、間隔5至10秒后，控制測試臺逆時針旋轉(zhuǎn)90度，然后順時針旋轉(zhuǎn)180度；
步驟6、控制測試臺繼續(xù)勻速逆時針旋轉(zhuǎn)90度，回到初始位置停止；
步驟7、間隔5至10秒后，獲取信號功率曲線并進行分析。
[0011]所述EMC測試屏蔽室內(nèi)包括測試臺、驅(qū)動電機、電源、屏蔽盒、信號采集裝置，所述EMC測試屏蔽室外部設(shè)置控制器，測試臺位于屏蔽室的中央，測試臺下側(cè)設(shè)置屏蔽盒，驅(qū)動電機和電源設(shè)置于屏蔽盒內(nèi)，測試產(chǎn)品放置于測試臺上，驅(qū)動電機驅(qū)動測試臺旋轉(zhuǎn)，信號采集裝置位于測試臺前方或上方，用于檢測測試產(chǎn)品發(fā)出的信號頻率及強度，并將檢測到的信號發(fā)送至外部控制器，外部控制器對接收的信號進行處理，并將處理結(jié)果輸出。
[0012]所述測試臺包括第一臺面、第二臺面，所述第二臺面水平設(shè)置，第一臺面平行設(shè)置于第二臺面上部，所述第二臺面通過旋轉(zhuǎn)軸與驅(qū)動電機的驅(qū)動軸連接，所述驅(qū)動電機設(shè)置于第二臺面下部，所述第一臺面中心與第二臺面中心分別開孔，兩個開孔之間設(shè)置走線槽，所述走線槽的兩端分別與兩個開孔連接。
[0013]所述第一臺面為規(guī)則幾何形狀，所述第二臺面為圓形。
[0014]所述外部控制器的中央處理器為FPGA系列芯片、DSP系列芯片或ARM系列芯片。
[0015]所述FPGA芯片為Xilinx公司的Spartan-6系列芯片中的一種。
[0016]所述FPGA 芯片為 XC6SLX16。
[0017]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果為:
1、該方法采用先順時針再逆時針，或者先逆時針再順時針交替的方式進行旋轉(zhuǎn)測試臺，使得測試過程中，信號捕獲的充分。
[0018]增加了屏蔽盒，將電源設(shè)置于屏蔽盒內(nèi)，減少電源向外輻射，并設(shè)置走線槽，使得測試產(chǎn)品的電源線內(nèi)置，避免安全隱患。
[0019]2、走線槽內(nèi)設(shè)置屏蔽層，避免了測試過程中電源線的傳導(dǎo)干擾，增加了測試準(zhǔn)確性。
[0020]3、固定臺面上設(shè)置電源輸出端口固定裝置，方便了測試產(chǎn)品的電源接入。
[0021]4、固定臺面設(shè)置為不同形狀，可有針對性的測試不同結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品，方便操作。
【具體實施方式】
[0022]下面對本發(fā)明的技術(shù)方案進行詳細說明:
一種EMC測試方法，包括如下步驟:
步驟1、將待測試產(chǎn)品設(shè)置于測試臺上，接通電源；
步驟2、關(guān)閉EMC測試屏蔽室的門，保持屏蔽室密閉狀態(tài)；
步驟3、外部控制器控制測試臺勻速順時針旋轉(zhuǎn)180度，然后逆時針旋轉(zhuǎn)360度；
步驟4、控制測試臺繼續(xù)勻速順時針旋轉(zhuǎn)180度，回到初始位置停止；
步驟5、間隔5至10秒后，控制測試臺逆時針旋轉(zhuǎn)90度，然后順時針旋轉(zhuǎn)180度；
步驟6、控制測試臺繼續(xù)勻速逆時針旋轉(zhuǎn)90度，回到初始位置停止；
步驟7、間隔5至10秒后，獲取信號功率曲線并進行分析。
[0023]所述EMC測試屏蔽室內(nèi)包括測試臺、驅(qū)動電機、電源、屏蔽盒、信號采集裝置，所述EMC測試屏蔽室外部設(shè)置控制器，測試臺位于屏蔽室的中央，測試臺下側(cè)設(shè)置屏蔽盒，驅(qū)動電機和電源設(shè)置于屏蔽盒內(nèi)，測試產(chǎn)品放置于測試臺上，驅(qū)動電機驅(qū)動測試臺旋轉(zhuǎn)，信號采集裝置位于測試