一種天線測(cè)試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于天線測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種天線測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]軟板(Flexible Printed Circuit，F(xiàn)PC)天線的檢測(cè)技術(shù)，已經(jīng)較為成熟，目前有三種較為常見(jiàn)的方式，即探針(pogopin針)接觸FPC的焊盤(pán)進(jìn)行饋電的方式、Ipex座形式饋電的方式以及Ipex母頭接觸測(cè)試的方式，這些檢測(cè)方式都存在缺陷，具體為:
[0003]pogopin針接觸軟板的焊盤(pán)進(jìn)行饋電，以檢測(cè)一致性，其檢測(cè)的通用性較差，需要頻繁的更換檢測(cè)裝置，實(shí)現(xiàn)對(duì)不同軟板的天線檢測(cè)工作，測(cè)試效率較低；
[0004]Ipex母頭接觸測(cè)試的方式:以Ipex座形式饋電，由于Ipex座的尺寸較小(約為
2.5*2.5mm)，采用傳統(tǒng)的上下壓沖方式，由于工裝精度誤差容易造成產(chǎn)品的壓傷，影響天線良率；
[0005]采用Ipex母頭接觸測(cè)試方法，需要將每個(gè)產(chǎn)品與Ipex母頭接觸，測(cè)試效率較低，而且由于Ipex母頭的使用次數(shù)有限，也需要經(jīng)常更換，降低了天線測(cè)試的效率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的在于提供一種天線測(cè)試裝置，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)提供的天線檢測(cè)方式存在測(cè)試效率低、影響天線良率的問(wèn)題。
[0007]本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種天線測(cè)試裝置，所述天線測(cè)試裝置包括上壓塊和天線固定塊，其中:
[0008]所述天線固定塊固定安裝在檢測(cè)電路板上，所述天線固定塊上設(shè)有第一天線放置槽和第二天線放置槽，所述第一天線放置槽內(nèi)放置待測(cè)的第一類(lèi)天線，所述第二天線放置槽內(nèi)放置待測(cè)的第二類(lèi)天線，所述第一類(lèi)天線上設(shè)有若干個(gè)第一天線定位孔，所述第二類(lèi)天線上設(shè)有若干個(gè)第二天線定位孔；
[0009]所述第一天線放置槽內(nèi)設(shè)有若干個(gè)第一固定塊定位孔和若干個(gè)第一固定塊探針穿孔，所述第二天線放置槽內(nèi)設(shè)有若干個(gè)第二固定塊定位孔和若干個(gè)第二固定塊探針穿孔，所述第一固定塊探針穿孔和所述第二固定塊探針穿孔套裝在所述檢測(cè)電路板上對(duì)應(yīng)位置的探針上，所述探針穿過(guò)所述第一固定塊探針穿孔后與所述第一類(lèi)天線的漏銅部分相接觸，所述探針穿過(guò)所述第二固定塊探針穿孔后與所述第二類(lèi)天線的漏銅部分相接觸；
[0010]所述上壓塊固定安裝在升降板與所述天線固定塊相對(duì)應(yīng)的一側(cè)，所述上壓塊上設(shè)有第一壓塊凸起和第二壓塊凸起，所述第一壓塊凸起與所述第一天線放置槽相適應(yīng)，所述第二壓塊凸起與所述第二天線放置槽相適應(yīng)，所述第一壓塊凸起上設(shè)有若干個(gè)第一壓塊定位孔，所述第二壓塊凸起上設(shè)有若干個(gè)第二壓塊定位孔；
[0011]所述第一固定塊定位孔、第一天線定位孔以及第一壓塊定位孔相對(duì)應(yīng)，所述第二固定塊定位孔、第二天線定位孔以及第二壓塊定位孔相對(duì)應(yīng)。
[0012]作為一種改進(jìn)的方案，所述第一固定塊定位孔的數(shù)量為兩個(gè)，分別記為:第一固定塊定位孔A和第一固定塊定位孔B，相對(duì)應(yīng)的，所述第一壓塊定位孔的數(shù)量也兩個(gè)，分別記為:第一壓塊定位孔A和第一壓塊定位孔B，其中:
[0013]所述第一固定塊定位孔B位于所述天線固定塊的中心位置，所述第一壓塊定位孔B位于所述上壓塊的中心位置。
[0014]作為一種改進(jìn)的方案，所述第二固定塊定位孔的數(shù)量為三個(gè)，分別記為:第二固定塊定位孔A、第二固定塊定位孔B以及第二固定塊定位孔C，相對(duì)應(yīng)的，所述第二壓塊定位孔的數(shù)量也為三個(gè)，分別記為:第二壓塊定位孔A、第二壓塊定位孔B以及第二壓塊定位孔C，其中:
[0015]所述第二固定塊定位孔A、第二固定塊定位孔B以及第二固定塊定位孔C從所述天線固定塊的中心向一側(cè)分布，第二壓塊定位孔A、第二壓塊定位孔B以及第二壓塊定位孔C從所述上壓塊的中心向一側(cè)分布。
[0016]作為一種改進(jìn)的方案，所述第一固定塊探針穿孔的數(shù)量為兩個(gè)，分別記為:第一固定塊探針穿孔A和第一固定塊探針穿孔B ;
[0017]所述第二固定塊探針穿孔的數(shù)量為兩個(gè)，分別記為:第二固定塊探針穿孔A和第二固定塊探針穿孔B。
[0018]作為一種改進(jìn)的方案，所述第一天線定位孔設(shè)置為兩個(gè)，分別記為:第一天線定位孔A和第一天線定位孔B，所述第二天線定位孔設(shè)置為三個(gè)，分別記為:第二天線定位孔A、第二天線定位孔B以及第二天線定位孔C。
[0019]作為一種改進(jìn)的方案，所述第一固定塊定位孔A、第一天線定位孔A以及第一壓塊定位孔A相對(duì)應(yīng)；
[0020]所述第一固定塊定位孔B、第一天線定位孔B以及第一壓塊定位孔B相對(duì)應(yīng)；
[0021]所述第二固定塊定位孔A、第二天線定位孔A以及第二固定塊定位孔A相對(duì)應(yīng)；
[0022]所述第二固定塊定位孔B、第二天線定位孔B以及第二固定塊定位孔B相對(duì)應(yīng)；
[0023]所述第二固定塊定位孔C、第二天線定位孔C以及第二固定塊定位孔C相對(duì)應(yīng)。
[0024]作為一種改進(jìn)的方案，所述第一類(lèi)天線為分集天線，所述第二類(lèi)天線為主天線。
[0025]由于天線測(cè)試裝置包括上壓塊和天線固定塊，天線固定塊上設(shè)有第一天線放置槽和第二天線放置槽，第一天線放置槽內(nèi)放置待測(cè)的第一類(lèi)天線，第二天線放置槽內(nèi)放置待測(cè)的第二類(lèi)天線，第一類(lèi)天線上設(shè)有若干個(gè)第一天線定位孔，第二類(lèi)天線上設(shè)有若干個(gè)第二天線定位孔，第一天線放置槽內(nèi)設(shè)有若干個(gè)第一固定塊定位孔和若干個(gè)第一固定塊探針穿孔，第二天線放置槽內(nèi)設(shè)有若干個(gè)第二固定塊定位孔和若干個(gè)第二固定塊探針穿孔，上壓塊上設(shè)有第一壓塊凸起和第二壓塊凸起，第一壓塊凸起上設(shè)有若干個(gè)第一壓塊定位孔，所述第二壓塊凸起上設(shè)有若干個(gè)第二壓塊定位孔，第一固定塊定位孔、第一天線定位孔以及第一壓塊定位孔相對(duì)應(yīng)，所述第二固定塊定位孔、第二天線定位孔以及第二壓塊定位孔相對(duì)應(yīng)，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)天線的檢測(cè)，而且采用天線漏銅部分的接觸方式，提高檢測(cè)效率，也進(jìn)一步地提尚了天線廣品良率。
【附圖說(shuō)明】
[0026]圖1是本發(fā)明提供的天線固定塊的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0027]圖2是本發(fā)明提供的上壓塊的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0028]圖3和圖4分別是本發(fā)明提供的分級(jí)天線的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0029]圖5和圖6分別是本發(fā)明提供的主天線的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0030]其中，1-上壓塊，2-天線固定塊，3-第一天線放置槽，4-第二天線放置槽，5-第一壓塊凸起，6-第二壓塊凸起，7-第一固定塊定位孔A，8-第一固定塊定位孔B，9-第一壓塊定位孔A，10-第一壓塊定位孔B，11-第二固定塊定位孔A，12-第二固定塊定位孔B，13-第二固定塊定位孔C，14-第二壓塊定位孔A，15-第二壓塊定位孔B，16-第二壓塊定位孔C，17-第一固定塊探針穿孔A，18-第一固定塊探針穿孔B，19-第二固定塊探針穿孔A，20-第二固定塊探針穿孔B，21-第一天線定位孔A，22-第一天線定位孔B，23-第二天線定位孔A，24-第二天線定位孔B，25-第二天線定位孔C，26-第一漏銅區(qū)域，27-第二漏銅區(qū)域，28-第三漏銅區(qū)域，29-第四漏銅區(qū)域，30-第五漏銅區(qū)域，31-第六漏銅區(qū)域。
【具體實(shí)施方式】
[0031]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0032]圖1示出了本發(fā)明提供的天線固定塊的結(jié)構(gòu)示意圖，圖2示出了本發(fā)明提供的上壓