測(cè)試方法及使用該測(cè)試方法的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種自動(dòng)測(cè)試的設(shè)備及方法，特別是有關(guān)于一種能同時(shí)測(cè)試多個(gè)待測(cè)接腳以及對(duì)單一個(gè)待測(cè)接腳進(jìn)行多次測(cè)試的測(cè)試設(shè)備及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]每一個(gè)電子設(shè)備在出廠前，都需要通過自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(Automatic TestEquipment, ATE)進(jìn)行功能測(cè)試，以確定電子設(shè)備的使用功能及品質(zhì)。
[0003]一個(gè)電子設(shè)備通常具有多個(gè)接腳需要進(jìn)行測(cè)試?，F(xiàn)行一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備以接腳參數(shù)量測(cè)單兀(Per Pin Parametric Measurement Unit, PPMU)對(duì)應(yīng)稱接于待測(cè)電子裝置的接腳以進(jìn)行接腳測(cè)試，再由一個(gè)類比數(shù)位轉(zhuǎn)換器(Analog-to-Digital converter, ADC)稱接至PPMU，將PPMU的測(cè)試結(jié)果的類比信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)位值，再由電腦進(jìn)行讀值。
[0004]然而，此種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備僅具有一個(gè)ADC對(duì)多個(gè)PPMU的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行信號(hào)的轉(zhuǎn)換，就需要花費(fèi)很長(zhǎng)的時(shí)間來進(jìn)行接腳測(cè)試，進(jìn)而增加電子設(shè)備在生產(chǎn)過程的成本。
[0005]此外，在測(cè)試待測(cè)電子設(shè)備的接腳時(shí)，若只對(duì)待測(cè)電子設(shè)備的接腳進(jìn)行一次測(cè)試，很可能造成測(cè)試上的誤差。但若要對(duì)待一接腳進(jìn)行多次的測(cè)試，現(xiàn)行軟體的方式就需要執(zhí)行多次的軟體指令傳送才能完成。以軟體指令來控制測(cè)試，將會(huì)耗費(fèi)許多傳輸通訊的時(shí)間，不僅增加了測(cè)試的總時(shí)間，在軟體指令通訊的期間也可能造成測(cè)試結(jié)果的變化，而影響了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確率。
[0006]有鑒于現(xiàn)行自動(dòng)測(cè)試設(shè)備在測(cè)試時(shí)所花費(fèi)的長(zhǎng)時(shí)間以及軟體指令耗時(shí)又低準(zhǔn)確率的問題，實(shí)有必要提出一種測(cè)試方法及自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，以縮減測(cè)試所花費(fèi)的時(shí)間并提升測(cè)試準(zhǔn)確率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明一種測(cè)試方法，通過群組化接腳測(cè)試單元，以達(dá)到在同一時(shí)間中同時(shí)對(duì)多個(gè)待測(cè)接腳進(jìn)行接腳測(cè)試，并利用硬體自動(dòng)執(zhí)行的指令，達(dá)到多次測(cè)試同一個(gè)待測(cè)接腳的效果，進(jìn)而提升測(cè)試的準(zhǔn)確率。
[0008]為達(dá)上述目的，本發(fā)明一種測(cè)試方法運(yùn)用于一自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，用以測(cè)試待測(cè)物的多個(gè)待測(cè)接腳。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備具有多個(gè)測(cè)試群組，每一個(gè)測(cè)試群組具有多個(gè)接腳測(cè)試單元，且分別對(duì)應(yīng)于一個(gè)類比數(shù)位轉(zhuǎn)換器。每一個(gè)測(cè)試群組中的接腳測(cè)試單元耦接至對(duì)應(yīng)的類比數(shù)位轉(zhuǎn)換器，所述測(cè)試方法包含以下步驟。依據(jù)選擇信號(hào)，決定每一個(gè)測(cè)試群組的讀值排序表，讀值排序表以測(cè)試順序指定須進(jìn)行接腳測(cè)試的接腳測(cè)試單元。依據(jù)測(cè)試順序，載入每一個(gè)測(cè)試群組中須進(jìn)行接腳測(cè)試的一個(gè)接腳測(cè)試單元的測(cè)試參數(shù)，每一個(gè)測(cè)試參數(shù)指示測(cè)試模式及測(cè)試次數(shù)。依據(jù)測(cè)試模式，已載入測(cè)試參數(shù)的接腳測(cè)試單元重復(fù)進(jìn)行接腳測(cè)試達(dá)測(cè)試次數(shù)，據(jù)以取得多個(gè)測(cè)試信號(hào)。將已重復(fù)進(jìn)行接腳測(cè)試的每一個(gè)接腳測(cè)試單元所取得的每一個(gè)測(cè)試信號(hào)轉(zhuǎn)換成測(cè)試值。取得已重復(fù)進(jìn)行接腳測(cè)試的每一個(gè)接腳測(cè)試單元的測(cè)試值。計(jì)算已重復(fù)進(jìn)行接腳測(cè)試的每一個(gè)接腳測(cè)試單元的測(cè)試值平均。
[0009]于本發(fā)明一實(shí)施例中，于載入每一個(gè)測(cè)試群組中須進(jìn)行接腳測(cè)試的一個(gè)接腳測(cè)試單元的測(cè)試參數(shù)步驟中，包含切斷每一個(gè)測(cè)試群組中全部的接腳測(cè)試單元。導(dǎo)通須進(jìn)行接腳測(cè)試的其中一個(gè)測(cè)試接單元。
[0010]于本發(fā)明一實(shí)施例中，更包含依據(jù)測(cè)試模式，載入已重復(fù)進(jìn)行接腳測(cè)試的每一個(gè)接腳測(cè)試單元的增益參數(shù)及補(bǔ)償參數(shù)。依據(jù)增益參數(shù)及補(bǔ)償參數(shù)，校正已重復(fù)進(jìn)行接腳測(cè)試的每一個(gè)接腳測(cè)試單元的測(cè)試值。
[0011]于本發(fā)明一實(shí)施例中，于計(jì)算已重復(fù)進(jìn)行接腳測(cè)試的每一個(gè)接腳測(cè)試單元的測(cè)試值平均步驟中，包含將每一個(gè)接腳測(cè)試單元經(jīng)校正后的測(cè)試值累加，以及計(jì)算每一個(gè)接腳測(cè)試單元累加后的該些測(cè)試值的平均值。
[0012]本發(fā)明一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，包含多個(gè)測(cè)試群組、第一控制單元、多個(gè)類比數(shù)位轉(zhuǎn)換器、第二控制單元及計(jì)算單元。每一個(gè)測(cè)試群組具有多個(gè)接腳測(cè)試單元，每一個(gè)接腳測(cè)試單元依據(jù)測(cè)試模式，重復(fù)進(jìn)行接腳測(cè)試達(dá)測(cè)試次數(shù)，據(jù)以取得多個(gè)測(cè)試信號(hào)。第一控制單元依據(jù)選擇信號(hào)，決定每一個(gè)測(cè)試群組的讀值排序表。讀值排序表以測(cè)試順序指定須進(jìn)行接腳測(cè)試的接腳測(cè)試單元。第一控制單元再依據(jù)測(cè)試順序，載入每一個(gè)測(cè)試群組中須進(jìn)行接腳測(cè)試的接腳測(cè)試單元的測(cè)試參數(shù)。測(cè)試參數(shù)指示測(cè)試模式及測(cè)試次數(shù)。多個(gè)類比數(shù)位轉(zhuǎn)換器耦接至第一控制單元，每一個(gè)類比數(shù)位轉(zhuǎn)換器對(duì)應(yīng)于一個(gè)測(cè)試群組，且測(cè)試群組中的接腳測(cè)試單元皆耦接至對(duì)應(yīng)的類比數(shù)位轉(zhuǎn)換器，用以將已重復(fù)進(jìn)行接腳測(cè)試的接腳測(cè)試單元所取得的測(cè)試信號(hào)轉(zhuǎn)換成測(cè)試值。第二控制單元耦接于類比數(shù)位轉(zhuǎn)換器，用以取得已重復(fù)進(jìn)行接腳測(cè)試的接腳測(cè)試單元所得到的測(cè)試值。而計(jì)算單元耦接于第二控制單元，用以計(jì)算已重復(fù)進(jìn)行接腳測(cè)試的接腳測(cè)試單元所取得的的測(cè)試值平均。
[0013]于本發(fā)明一實(shí)施例中，所述自動(dòng)量測(cè)設(shè)備更包含多個(gè)多工器，每一個(gè)測(cè)試群組對(duì)應(yīng)至一個(gè)多工器，多工器用以選擇性切斷或?qū)y(cè)試群組中的接腳測(cè)試單元。
[0014]于本發(fā)明一實(shí)施例中，第一控制單元包含選擇控制單元、排序單元及第一查表單元。選擇控制單元用以接收選擇信號(hào)。排序單元依據(jù)選擇信號(hào)，決定每一個(gè)測(cè)試群組的讀值排序表。第一查表單元與類比數(shù)位轉(zhuǎn)換器耦接，依據(jù)每一個(gè)測(cè)試群組的測(cè)試順序，載入每一個(gè)測(cè)試群組中須進(jìn)行接腳測(cè)試的接腳測(cè)試單元的測(cè)試參數(shù)。參數(shù)記憶單元依據(jù)接腳測(cè)試單元，儲(chǔ)存對(duì)應(yīng)的測(cè)試參數(shù)。參數(shù)選擇單元依據(jù)測(cè)試順序，從參數(shù)記憶單元中載入須進(jìn)行接腳測(cè)試的接腳測(cè)試單元的測(cè)試參數(shù)。
[0015]于本發(fā)明一實(shí)施例中，所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備更包含第二查表單元及校正單元。第二查表單元耦接至第一控制單元，依據(jù)測(cè)試模式載入增益參數(shù)及補(bǔ)償參數(shù)。校正單元耦接至第二控制單元及第二查表單元，依據(jù)增益參數(shù)及補(bǔ)償參數(shù)，校正已重復(fù)進(jìn)行接腳測(cè)試的每一個(gè)接腳測(cè)試單元的測(cè)試值。第二查表單元更包含校正值記憶單元及校正值選擇單元。校正值記憶單元依據(jù)測(cè)試模式，儲(chǔ)存每一個(gè)接腳測(cè)試單元所對(duì)應(yīng)的增益參數(shù)及補(bǔ)償參數(shù)。校正值選擇單元依據(jù)測(cè)試模式，從校正值記憶單元中，載入接腳測(cè)試單元所對(duì)應(yīng)的增益參數(shù)及補(bǔ)償參數(shù)。
[0016]于本發(fā)明一實(shí)施例中，校正單元包含乘法器及第一加法器。乘法器依據(jù)增益參數(shù)，校正已重復(fù)進(jìn)行接腳測(cè)試的每一個(gè)接腳測(cè)試單元的測(cè)試值。第一加法器依據(jù)補(bǔ)償參數(shù)，校正已依據(jù)增益參數(shù)校正后的測(cè)試值。
[0017]于本發(fā)明一實(shí)施例中，計(jì)算單元包含第二加法器及移位暫存器。第二加法器用以將每一個(gè)接腳測(cè)試單元經(jīng)校正后的測(cè)試值累加。移位暫存器用以計(jì)算每一個(gè)接腳測(cè)試單元累加后的測(cè)試值的平均值。
[0018]以上的關(guān)于本發(fā)明公開內(nèi)容的說明及以下的實(shí)施方式的說明用以示范與解釋本發(fā)明的精神與原理，并且提供本發(fā)明的權(quán)利要求書更進(jìn)一步的解釋。
【附圖說明】
[0019]圖1為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所繪制的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的示意圖。
[0020]圖2為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所繪制的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備所用運(yùn)用的測(cè)試方法的流程圖。
[0021]圖3為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所繪制的讀值排序表的示意圖。
[0022]圖4為根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例所繪制的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的示意圖。
[0023]圖5為根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例所繪制的控制單元的框圖。
[0024]圖6為根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例所繪制的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備所用運(yùn)用的測(cè)試方法的流程圖。
[0025]圖7為根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例所繪制的讀值排序表的示意圖。
[0026]圖8為根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例所繪制的第一查表單元的框圖。
[0027]圖9為根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例所繪制的第二查表單元及校正單元的框圖。
[0028]圖10為根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例所繪制的測(cè)試方法中校正步驟的流程圖。
[0029]圖11為根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例所繪制的計(jì)算單元的框圖。
[0030]圖12為根據(jù)本發(fā)明又一實(shí)施例所繪制的測(cè)試方法的狀態(tài)圖。
[0031]其中:
[0032]Chl-Ch64接腳測(cè)試單元
[0033]1自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
[0034]1 la-1 Id 測(cè)試群組
[0035]13a-13d類比數(shù)位轉(zhuǎn)換器
[0036]15控制單元
[0037]151第一控制單元
[0038]153第二控制單元
[0039]155計(jì)算單元