1.一種預(yù)訓(xùn)練模型的攻擊檢測(cè)方法,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一指標(biāo)集合和所述第二指標(biāo)集合對(duì)所述測(cè)試樣本集中的各個(gè)物品進(jìn)行分類得到至少兩個(gè)分類集合包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述將所述嵌入表示輸入聚類模型得到所述測(cè)試樣本集中的各個(gè)物品的至少兩個(gè)分類集合包括:
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,在獲取所述第二訓(xùn)練樣本集和推薦模型之前,所述方法還包括:
6.一種預(yù)訓(xùn)練模型的攻擊方法,其特征在于,包括:
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述利用所述第一物品和所述第一訓(xùn)練樣本集生成第二訓(xùn)練樣本集包括:
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
10.根據(jù)權(quán)利要求6至9中任一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,在獲取所述第一訓(xùn)練樣本集和初始模型之前,所述方法還包括:
11.根據(jù)權(quán)利要求6至9中任一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一指標(biāo)集合和所述第二指標(biāo)集合對(duì)所述測(cè)試樣本集中的各個(gè)物品進(jìn)行分類得到至少兩個(gè)分類集合包括:
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法,其特征在于,所述將所述嵌入表示輸入聚類模型得到所述測(cè)試樣本集中的各個(gè)物品的至少兩個(gè)分類集合包括:
14.一種預(yù)訓(xùn)練模型的攻擊檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:
15.一種預(yù)訓(xùn)練模型的攻擊裝置,其特征在于,包括:
16.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備,其特征在于,包括:存儲(chǔ)器、處理器以及總線系統(tǒng);
17.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),包括指令,當(dāng)其在計(jì)算機(jī)上運(yùn)行時(shí),使得計(jì)算機(jī)執(zhí)行如權(quán)利要求1至13中任一項(xiàng)所述的方法。