基于數(shù)據(jù)縱橫存儲(chǔ)及校驗(yàn)處理方法的三相費(fèi)控智能電能表的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及電器儀表技術(shù)領(lǐng)域，具體來講是一種基于數(shù)據(jù)縱橫存儲(chǔ)及校驗(yàn)處理方 法的三相費(fèi)控智能電能表。
【背景技術(shù)】
[0002] 三相費(fèi)控智能電能表運(yùn)行過程中，由于要實(shí)時(shí)的從存儲(chǔ)器中讀取或?qū)懭腚娏康葦?shù) 據(jù)。這些數(shù)據(jù)對(duì)于三相費(fèi)控智能電能表能夠正常計(jì)量起著至關(guān)重要的作用，一定要保證這 些數(shù)據(jù)存儲(chǔ)過程中和讀寫過程中可靠。在存儲(chǔ)的過程中存儲(chǔ)器本身受到外界的干擾或本身 的性能出現(xiàn)問題導(dǎo)致部分存儲(chǔ)區(qū)域失效，這時(shí)存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)可靠性就不能得到保證。在讀寫 數(shù)據(jù)的信號(hào)在物理信道中傳輸時(shí)，線路本身電器特性造成的隨機(jī)噪聲、信號(hào)幅度的衰減、頻 率和相位的畸變、電器信號(hào)在線路上產(chǎn)生反射造成的回音效應(yīng)、相鄰線路間的串?dāng)_以及各 種外界因素（如大氣中的閃電、開關(guān)的跳火、外界強(qiáng)電流磁場(chǎng)的變化、電源的波動(dòng)等）都會(huì) 造成信號(hào)的失真。將會(huì)使單片機(jī)收到的二進(jìn)制數(shù)位和存儲(chǔ)器實(shí)際發(fā)送的二進(jìn)制數(shù)位不一 致，從而造成由"〇"變成"1"或由"1"變成"〇"的差錯(cuò)。解決這兩個(gè)問題目前最常用的方 法是在數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的時(shí)，按照某種關(guān)系附加上一定的冗余碼，把數(shù)據(jù)和冗余碼一起存儲(chǔ)到存 儲(chǔ)器中。目前常用冗余碼計(jì)算方法是進(jìn)行累加和校驗(yàn)和循環(huán)冗余碼校驗(yàn)。
[0003] 累加和校驗(yàn)是通過把要校驗(yàn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行簡(jiǎn)單的相加，取累加和的低字節(jié)（1個(gè)或2 個(gè)）高位舍棄。這種方法計(jì)算簡(jiǎn)單但是漏檢率比較高，例如其中如有兩個(gè)字節(jié)對(duì)掉就無法 檢出。
[0004] 循環(huán)冗余碼校驗(yàn)，目前常采用的是循環(huán)冗余校驗(yàn)（CRC-16或CRC-32)，這種方法可 以有效的降低漏檢率，但存在一個(gè)問題計(jì)算量比較大，特別是到要校驗(yàn)的數(shù)據(jù)比較長(zhǎng)時(shí)或 數(shù)據(jù)比較短但是要頻繁的讀寫時(shí)，處理速度明顯減慢。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺陷，本發(fā)明的目的在于提供一種基于數(shù)據(jù)縱橫存儲(chǔ)及校 驗(yàn)處理方法的三相費(fèi)控智能電能表，本發(fā)明降低了漏檢率，提高了三相費(fèi)控智能電能表中 電量數(shù)據(jù)在存儲(chǔ)過程中可靠性；降低了單片機(jī)的運(yùn)算和存儲(chǔ)負(fù)擔(dān)，提高了處理速度。
[0006] 為達(dá)到以上目的，本發(fā)明采取的技術(shù)方案是：一種基于數(shù)據(jù)縱橫存儲(chǔ)方法的三相 費(fèi)控智能電能表，包括以下步驟：步驟SlL根據(jù)存儲(chǔ)器的緩沖區(qū)長(zhǎng)度，將待存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)劃 分為至少一塊數(shù)據(jù)塊；步驟S12.根據(jù)數(shù)據(jù)類型，將各數(shù)據(jù)塊按字節(jié)分成m行橫行及η列縱 列，其中m多1，η多1 ;步驟S13.為各數(shù)據(jù)塊分別建立一個(gè)用于存放橫向校驗(yàn)數(shù)據(jù)的橫向 校驗(yàn)數(shù)組，其長(zhǎng)度為m個(gè)字節(jié)；為各數(shù)據(jù)塊分別建立一個(gè)用于存放縱向校驗(yàn)數(shù)據(jù)的縱向校 驗(yàn)數(shù)組，其長(zhǎng)度為n+1個(gè)字節(jié)；步驟S14.對(duì)各數(shù)據(jù)塊中每一行的η個(gè)字節(jié)數(shù)據(jù)進(jìn)行累加運(yùn) 算后，再取模運(yùn)算，并將結(jié)果作為校驗(yàn)數(shù)據(jù)存入橫向校驗(yàn)數(shù)組；步驟S15.對(duì)各數(shù)據(jù)塊中每 一列的m個(gè)字節(jié)數(shù)據(jù)進(jìn)行異或運(yùn)算后，再求反運(yùn)算，并將結(jié)果作為校驗(yàn)數(shù)據(jù)存入縱向校驗(yàn) 數(shù)組；步驟S16.將橫向校驗(yàn)數(shù)組中的m個(gè)字節(jié)數(shù)據(jù)進(jìn)行異或運(yùn)算后，再求反運(yùn)算，并將結(jié)果 作為校驗(yàn)數(shù)據(jù)存入縱向校驗(yàn)數(shù)組；步驟S17.將各數(shù)據(jù)塊、橫向校驗(yàn)數(shù)組、縱向校驗(yàn)數(shù)組寫 入到存儲(chǔ)器中。
[0007] 在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，步驟Sll中，所述存儲(chǔ)器包括隨機(jī)存取存儲(chǔ)器和帶電 可擦寫可編程只讀存儲(chǔ)器。
[0008] 在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，步驟Sll中，每一塊數(shù)據(jù)塊不大于存儲(chǔ)器的緩沖區(qū)長(zhǎng) 度。
[0009] 在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，步驟S12中，若最后一行橫行數(shù)據(jù)不足，則補(bǔ)零。
[0010] 在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，步驟S14中，所述取模運(yùn)算具體是把累加運(yùn)算后的結(jié) 果對(duì)256取模。
[0011] 在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，步驟S16中，將結(jié)果作為校驗(yàn)數(shù)據(jù)存入縱向校驗(yàn)數(shù)組 中第n+1個(gè)字節(jié)對(duì)應(yīng)的位置。
[0012] 本發(fā)明還提供一種基于上述縱橫存儲(chǔ)方法的基于數(shù)據(jù)校驗(yàn)處理方法的三相費(fèi)控 智能電能表，包括以下步驟：步驟S21.校驗(yàn)處理前，先判斷數(shù)據(jù)更新類型，若是對(duì)其中某一 行數(shù)據(jù)進(jìn)行更新，則進(jìn)入步驟S22 ;若是對(duì)全部數(shù)據(jù)進(jìn)行更新，則進(jìn)入步驟S23 ;步驟S22. 在存儲(chǔ)器中更新對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)塊中的一行數(shù)據(jù)及其在橫向校驗(yàn)數(shù)組、縱向校驗(yàn)數(shù)組中對(duì)應(yīng)的校 驗(yàn)數(shù)據(jù)，進(jìn)入步驟S24 ;步驟S23.計(jì)算更新后的各數(shù)據(jù)塊的橫向校驗(yàn)數(shù)組、縱向校驗(yàn)數(shù)組， 然后將各數(shù)據(jù)塊、橫向校驗(yàn)數(shù)組、縱向校驗(yàn)數(shù)組寫入到存儲(chǔ)器中，進(jìn)入步驟S24;步驟S24. 讀取各數(shù)據(jù)塊、橫向校驗(yàn)數(shù)組、縱向校驗(yàn)數(shù)組，計(jì)算讀取的各數(shù)據(jù)塊的橫向校驗(yàn)數(shù)組、縱向 校驗(yàn)數(shù)組，并將其分別與讀取的橫向校驗(yàn)數(shù)組、縱向校驗(yàn)數(shù)組進(jìn)行比較，校驗(yàn)成功后取讀出 的各數(shù)據(jù)塊，否則再次讀出并校驗(yàn)。
[0013] 在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，步驟S22中，對(duì)其中某一行數(shù)據(jù)進(jìn)行更新時(shí)，所述計(jì)算 具體包括：步驟S221.對(duì)更新后的目標(biāo)行的η個(gè)字節(jié)數(shù)據(jù)進(jìn)行累加運(yùn)算后，再取模運(yùn)算，并 將結(jié)果存入橫向校驗(yàn)數(shù)組；步驟S221.對(duì)縱向校驗(yàn)數(shù)組進(jìn)行求反運(yùn)算，將求反后的結(jié)果與 更新前的目標(biāo)行數(shù)據(jù)進(jìn)行異或運(yùn)算；步驟S223.對(duì)步驟S222中異或后的結(jié)果與更新后的目 標(biāo)行數(shù)據(jù)進(jìn)行異或運(yùn)算，將再次異或后的結(jié)果進(jìn)行求反運(yùn)算，存入縱向校驗(yàn)數(shù)組中。
[0014] 在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，步驟S23中，全部數(shù)據(jù)進(jìn)行更新時(shí)，所述計(jì)算具體包 括：步驟S231.對(duì)各數(shù)據(jù)塊中每一行的η個(gè)字節(jié)數(shù)據(jù)進(jìn)行累加運(yùn)算后，再取模運(yùn)算，并將結(jié) 果存入橫向校驗(yàn)數(shù)組；步驟S232.對(duì)各數(shù)據(jù)塊中每一列的m個(gè)字節(jié)數(shù)據(jù)進(jìn)行異或運(yùn)算后，再 求反運(yùn)算，并將結(jié)果存入縱向校驗(yàn)數(shù)組；步驟S233.將橫向校驗(yàn)數(shù)組中的m個(gè)字節(jié)數(shù)據(jù)進(jìn)行 異或運(yùn)算后，再求反運(yùn)算，并將結(jié)果存入縱向校驗(yàn)數(shù)組。
[0015] 在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，步驟S24中，將計(jì)算后的橫向校驗(yàn)數(shù)組、縱向校驗(yàn)數(shù)組 分別與讀取的橫向校驗(yàn)數(shù)組、縱向校驗(yàn)數(shù)組進(jìn)行比較，若兩者比較均成功，則校驗(yàn)成功；若 任意一組比較失敗，則校驗(yàn)失敗。
[0016] 本發(fā)明的有益效果在于：
[0017] 1.本發(fā)明通過縱橫存儲(chǔ)方法將數(shù)據(jù)及其校驗(yàn)碼一同存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器中，在進(jìn)行橫向 校驗(yàn)的同時(shí)也進(jìn)行縱向校驗(yàn)，從而降低了漏檢率，提高了三相費(fèi)控智能電能表中電量數(shù)據(jù) 在存儲(chǔ)過程中可靠性。
[0018] 2.本發(fā)明能夠?qū)?shù)據(jù)塊中