內(nèi)沿線路方向設(shè)置。在此實施例中，連接北極與南極的線路無論在第一磁鐵還是第二磁鐵的情況下均與線路方向成大于0°且小于90°的夾角。為改善垂直于線路長度方向的場均勻性，將上述兩塊磁鐵中的每一塊分成兩塊間隔放置的磁鐵是一種便捷的方式。
[0033]在一替代實施例中，磁化設(shè)備包含一塊單磁鐵。在一特別優(yōu)選的實施例中，磁鐵至少在線路方向上在傳感器線路的整個長度方向上延伸。優(yōu)選地，磁鐵的排列方式可使連接北極與南極的線路與線路方向成大于0°且小于90°的夾角。連接北極與南極的線路相對線路方向的角度無需一定按照磁化設(shè)備在傳感器線路區(qū)域內(nèi)產(chǎn)生的磁場方向的角度設(shè)置。在磁化設(shè)備包含一塊單磁鐵的實施例中，測量裝置的結(jié)構(gòu)特別緊湊、特別簡易。
[0034]在一優(yōu)選實施例中，磁化設(shè)備磁鐵表面設(shè)置有朝向傳感器線路開啟的凹口，且所述表面面向傳感器線路。經(jīng)證明，在磁化設(shè)備磁鐵長方體形狀出現(xiàn)偏差的情況下一依據(jù)優(yōu)選實施例亦可使用一可產(chǎn)生傳感器線路區(qū)域場方向與傳感器線路成大于0°且小于90°夾角的實質(zhì)均勻的磁場。此實施例特別優(yōu)選用于包含一塊單磁體的磁化設(shè)備。但在使用包含多個磁鐵的磁化設(shè)備的情況下亦具有優(yōu)勢。在一優(yōu)選實施例中，凹口的結(jié)構(gòu)使指向傳感器線路的凹口開口的面積大于具有傳感元件的傳感器線路本身所占用的面積。
[0035]在一優(yōu)選實施例中，朝向傳感器線路的凹口開口為矩形。特別優(yōu)選地，開口長度沿線路方向延伸且大于垂直于線路方向延伸的開口的寬度。經(jīng)證明，在具有此凹口的情況下，可在傳感器線路區(qū)域內(nèi)正常產(chǎn)生實質(zhì)均勻的磁場且該磁場在傳感器線路區(qū)域內(nèi)的場方向與線路方向成大于0°且小于90°的夾角。在一優(yōu)選實施例中，所述凹口具有不同的深度。經(jīng)證明，在具有此凹口的情況下，在傳感器線路區(qū)域內(nèi)正?？僧a(chǎn)生本質(zhì)均勻的磁場且該磁場在傳感器線路區(qū)域內(nèi)的場方向與線路方向成大于0°且小于90°的夾角。在一優(yōu)選實施例中，凹口包括具有更大深度的中心區(qū)域，且具有較小深度的邊緣區(qū)域在線路方向上緊挨中心區(qū)域設(shè)置。
[0036]在一優(yōu)選實施例中，所述開口的凹口包括互為反向的底面，特別優(yōu)選地，底面在與開口平面平行的平面內(nèi)設(shè)置。在一特別優(yōu)選的實施例中，凹口的各底面為矩形。為創(chuàng)建一個具有不同深度的實施例，各底面可按照距開口平面不同的距離進行設(shè)置。在一優(yōu)選實施例中，凹口包含與開口平面相距較遠的中央底面，且與該底面并排排列；一個底面位于線路方向的一個方向，一個底面位于線路方向的相對的方向，后者與開口平面的距離較小。在一優(yōu)選實施例中，凹口的橫截面與包含線路方向且與開口平面垂直的平面呈鏡面對稱。在一種特別有利的方式中，凹口的此實施例可在傳感器線路區(qū)域內(nèi)產(chǎn)生本質(zhì)均勻的磁場，且該磁場在傳感器線路區(qū)域內(nèi)的場方向與線路方向成大于0°且小于90°的夾角。
[0037]在一優(yōu)選實施例中，所述傳感元件直接或承載傳感元件的芯片或包含所述芯片的殼體固定于印刷電路板的一側(cè)，測量裝置設(shè)置在印刷電路板的對側(cè)，特別優(yōu)選地，固定在印刷電路板上。此實施例可使傳感元件與待檢驗測量物體，尤其是安全文檔特別接近，或更具體來說，在一優(yōu)選實施例中，使待檢驗物體所在的測量平面向接近傳感元件表面的方向移動。
[0038]在一優(yōu)選實施例中，還進一步提供了傳感器線路中未設(shè)置的傳感元件，可測量其周圍的磁特性。特別優(yōu)選地，此進一步提供的傳感元件可設(shè)置在磁化設(shè)備與傳感器線路之間，或設(shè)置在磁化設(shè)備的與傳感器線路相對的一側(cè)。在相應(yīng)的實施例中，進一步提供的傳感元件也可設(shè)置在包含凹口的磁化設(shè)備的磁鐵的凹口中。進一步提供的傳感器使測量干涉場成為可能。該干涉場不屬于待傳感器線路測量的傳感器線路周圍的磁特性，特別合適的說法為該干涉場不是由優(yōu)選實施例中待檢驗的安全文檔所產(chǎn)生的。該進一步提供的傳感元件可用于消除傳感器線路生成的信號中因干涉場生成的部分。
[0039]在一優(yōu)選實施例中，測量裝置包含一種計值設(shè)備。首先，兩個(特別優(yōu)選地，全部)傳感元件包含一條輸出信號線，其中，在此優(yōu)選實施例中，該傳感元件的輸出信號線可引致計值設(shè)備處。在一特別優(yōu)選的實施例中，計值設(shè)備每單位時間可計算所有傳感元件輸出信號線信號的平均值。此實施例特別適合于本發(fā)明提供的測量裝置的應(yīng)用，其中僅待檢驗測量物體上是否存在磁特性需要驗證，而無需，例如，確定引起該磁特性的測量物體上部分區(qū)域的特定位置。
[0040]在一優(yōu)選實施例中，所述傳感元件在線路方向上等距設(shè)置。在一特別優(yōu)選實施例中，第一個傳感元件與其相鄰的傳感元件的間距相對于兩個傳感元件中心點間的間距應(yīng)在I?1mm之間，優(yōu)選地，在2?5mm之間，而特別優(yōu)選地，為3.5mmο在一特別優(yōu)選實施例中，芯片包含兩個在線路方向上并排設(shè)置的傳感元件，且在無殼體的情況下在線路方向上長度為1.5?9_，優(yōu)選地為2?3_，而特別優(yōu)選地為2.5_。在一優(yōu)選實施例中，一個芯片的邊緣與相鄰芯片的邊緣之間的間距小于1.5mm，特別優(yōu)選地，小于1.1mm。
[0041]在一替代實施例中，傳感元件的設(shè)置方式為:兩個設(shè)置在一個芯片上的相鄰傳感元件邊緣之間的間距小于未設(shè)置在一個芯片上的相鄰兩個傳感元件邊緣之間的間距。兩個芯片之間的間距通常采用一種技術(shù)進行預(yù)確定，芯片可通過這種技術(shù)連接至載板。這類技術(shù)通常需要比在一個芯片上設(shè)置兩個磁阻傳感元件所需空間更大的空間。因此，在芯片上配置傳感元件及在電路板上配置芯片的密度硬在所用技術(shù)可行的范圍內(nèi)盡可能大，從而提升了測量裝置的靈敏度。
[0042]芯片上傳感元件的生產(chǎn)優(yōu)選采用平面技術(shù)方法、半導(dǎo)體技術(shù)方法或微系統(tǒng)技術(shù)方法。
[0043]在一特別優(yōu)選的實施例中，測量裝置的結(jié)構(gòu)可檢測票據(jù)或紙張一尤其是紙幣一的磁特性結(jié)構(gòu)，且包含至少在靠近傳感器線路的一個區(qū)域內(nèi)在一個測量平面上移動票據(jù)或紙張使其經(jīng)過傳感器線路的適當(dāng)裝置。此適當(dāng)裝置優(yōu)選為輥輪，輥輪間形成輥輪間隙，票據(jù)或紙張可夾持在間隙中。若使用兩組此類輥輪且各組輥輪之間形成的輥輪間隙互相適當(dāng)對齊，則票據(jù)或紙張可在一個平面內(nèi)經(jīng)過兩組輥輪之間的傳感器線路。票據(jù)或紙張亦可置于例如具有橡膠表面或由羊毛制成的傳送帶上經(jīng)過傳感器線路。
[0044]在一優(yōu)選實施例中，測量裝置包含兩塊印刷電路板。特別優(yōu)選地，所述兩塊印刷電路板互相平行設(shè)置。在本優(yōu)選實施例中，第一塊印刷電路板可直接承載傳感元件，或可承載芯片，再由芯片承載傳感元件。特別優(yōu)選地，在與第一塊印刷電路板平行設(shè)置的第二塊印刷電路板上可進一步提供未設(shè)置在傳感器線路上的傳感器。另外，計值設(shè)備的部件，例如傳感器輸出信號的前置放大器，可設(shè)置在第二塊印刷電路板上。在一優(yōu)選實施例中，磁化設(shè)備，特別優(yōu)選地，為優(yōu)選實施例中提供的磁化設(shè)備的單磁鐵設(shè)置在第一塊印刷電路板與第二塊印刷電路板之間。在一種相應(yīng)構(gòu)成的優(yōu)選實施例中，磁鐵中提供的凹口的開口指向傳感器線路。各印刷電路板上提供的元件可通過軟連接互連。根據(jù)此優(yōu)選實施例，可最終制成一種結(jié)構(gòu)緊湊、實質(zhì)上為長方體的測量裝置。
[0045]本發(fā)明可能的應(yīng)用領(lǐng)域為檢查票據(jù)或紙張一尤其是紙幣、支票或其他紙張一是否具有磁特征，尤其是確認(rèn)所述票據(jù)或紙張是否具有特殊的、預(yù)先確定的磁特征。
[0046]本發(fā)明的測量裝置可用于安全文檔上的圖像識別，例如通常具有軟磁和/或硬磁圖案的紙幣、支票。本發(fā)明提供的設(shè)備也可用于識別所謂的標(biāo)簽或磁性條形碼。本發(fā)明提供的測量裝置還可用于材料檢測，例如確定鐵磁或電導(dǎo)材料中的缺陷、裂口或裂痕。本發(fā)明提供的測量裝置還可結(jié)合生物芯片內(nèi)的磁陣列或稱為“晶體實驗室”的技術(shù)，例如驗證磁性微粒或使陣列的靈敏度均勻分布。本發(fā)明提供的測量裝置尤其可用做感應(yīng)頭的替代品。
【附圖說明】
[0047]下文將結(jié)合附圖對本發(fā)明進行更加詳細的描述，附圖僅為本發(fā)明實施例的示例，其中:
[0048]凰I示出了本發(fā)明提供的測量裝置的傳感器線路及磁化設(shè)備的側(cè)面示意圖，包括一個單磁鐵，作為與線路方向垂直的橫截面。
[0049]Si示出了圖1所示的發(fā)明提供的測量裝置部件的正面示意圖，作為與線路方向垂直的橫截面。
[0050]圖3示出了圖1與圖2所示實施例中的磁化設(shè)備中的磁鐵的透視示意圖。
[0051]Si示出了本發(fā)明提供的測量裝置的頂部透視示意圖。