本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種AD轉(zhuǎn)換電路。
背景技術(shù):
AD轉(zhuǎn)換是通過(guò)某種電路將模擬量轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字量,其廣泛應(yīng)用于各種數(shù)字處理場(chǎng)合。模擬量可以是電壓、電流等電信號(hào),也可以是壓力、溫度、濕度、位移、聲音等非電信號(hào)。
目前,根據(jù)AD轉(zhuǎn)換的基本原理和特點(diǎn)可將其分為積分型AD轉(zhuǎn)換、逐次比較型AD轉(zhuǎn)換、并行比較型AD轉(zhuǎn)換、調(diào)制型AD轉(zhuǎn)換等等。其中,積分型AD轉(zhuǎn)換具有很好的抗干擾性能,故而其在數(shù)字電壓表和工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)的數(shù)據(jù)采集方面得到了比較廣泛的應(yīng)用。
然而,當(dāng)前的積分型AD轉(zhuǎn)換在精確度和轉(zhuǎn)換速度上仍有提升的空間。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的是提供一種AD轉(zhuǎn)換電路,它具有精確度較高,且轉(zhuǎn)換速度較快的特點(diǎn)。
本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:AD轉(zhuǎn)換電路,包括:模擬開(kāi)關(guān),連接該模擬開(kāi)關(guān)的積分電路,以及連接該積分電路的比較器,該比較器連接有I/O口,所述AD轉(zhuǎn)換電路還包括連接至該模擬開(kāi)關(guān)的放大電路和基準(zhǔn)電壓,同時(shí),有一反饋橋路作用于該放大電路,有一鉗位二極管作用于該積分電路。
有一保護(hù)二極管作用于該比較器。
本發(fā)明和現(xiàn)有技術(shù)相比所具有的優(yōu)點(diǎn)是:精確度較高,且轉(zhuǎn)換速度較快。本發(fā)明的AD轉(zhuǎn)換電路使用反饋橋路修正模擬量放大所帶來(lái)的誤差,通過(guò)修正提高采樣的準(zhǔn)確度和精度;使用鉗位二極管對(duì)積分電路進(jìn)行鉗位后減少下一次充放電時(shí)間,從而提高AD轉(zhuǎn)換效率;使用保護(hù)二極管后限制了比較器輸入I/O口的電壓,從而更好的保護(hù)了I/O口,提高了AD轉(zhuǎn)換電路的使用壽命。
附圖說(shuō)明
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步說(shuō)明:
圖1是本發(fā)明的實(shí)施例的AD轉(zhuǎn)換電路的原理框圖;
圖2是本發(fā)明的積分電路效果的示意圖;
圖3是本發(fā)明的實(shí)施例的電路原理圖。
圖中:
100、放大電路;
200、反饋橋路;
300、基準(zhǔn)電壓;
400、模擬開(kāi)關(guān);
500、積分電路;
600、比較器;
700、鉗位二極管;
800、保護(hù)二極管。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例,見(jiàn)圖1和圖2所示:AD轉(zhuǎn)換電路,包括:放大電路100、反饋橋路200、基準(zhǔn)電壓300、模擬開(kāi)關(guān)400、積分電路500、比較器600、鉗位二極管700、保護(hù)二極管800。其中,該積分電路500連接該模擬開(kāi)關(guān)400,該比較器600連接該積分電路500,該比較器600連接有I/O口。同時(shí),該放大電路100和基準(zhǔn)電壓300均連接至該模擬開(kāi)關(guān)400。該反饋橋路200作用于放大電路100。即,該反饋橋路200通過(guò)電阻的變化對(duì)模擬放大后的誤差進(jìn)行有效調(diào)整,修正采樣出來(lái)的數(shù)據(jù)。該鉗位二極管700作用于該積分電路500。即,該鉗位二極管700使積分電路500輸出電壓被鉗制在零點(diǎn),也就是說(shuō)圖2中C點(diǎn)的位置被鉗制在零點(diǎn)附近,從而在模擬量相同的情況下,下次充電時(shí)間將被有效壓縮,即C到D的時(shí)間變短,使整個(gè)AD采樣周期變短。該保護(hù)二極管800作用于該比較器600。即,該保護(hù)二極管800可以有效限制比較器600輸出的電壓,提高使用壽命。
結(jié)合圖3所示,在本實(shí)施例中,該反饋橋路200由R87、R88組成,該鉗位二極管700為接在積分電路500輸出口上的D36,該保護(hù)二極管800為接在該比較器600輸出口上的D37。
綜上所述,本發(fā)明使用反饋橋路修正模擬量放大所帶來(lái)的誤差,通過(guò)修正可以提高采樣的準(zhǔn)確度和精度。使用鉗位二極管對(duì)積分電路進(jìn)行鉗位后減少下一次充放電時(shí)間,從而提高AD轉(zhuǎn)換效率。使用保護(hù)二極管后限制比較器輸入I/O口的電壓,從而更好的保護(hù)了I/O口,提高了AD轉(zhuǎn)換電路的使用壽命。
以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例,并非因此限制本發(fā)明的專利范圍,凡是利用本發(fā)明說(shuō)明書(shū)及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換,或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域,均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。